可测试性设计

拼音 kě cè shì xìng shè jì · 注音 ㄎㄜˇ ㄘㄜˋ ㄕˋ ㄒㄧㄥˋ ㄕㄜˋ ㄐㄧˋ · 2026-07-16 02:56:59
可字组词 测字组词 试字组词 性字组词 设字组词 计字组词

基本属性

  • 拼音字母ke ce shi xing she ji
  • 拼音首字母kcsxsj
  • 注音符号ㄎㄜ ㄘㄜ ㄕ ㄒㄧㄥ ㄕㄜ ㄐㄧ

扩展释义

可测试性设计（英语：Design for Testability, DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。

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