探伤检测

基本属性

  • 拼音字母tan shang jian ce
  • 拼音首字母tsjc
  • 注音符号ㄊㄢ ㄕㄤ ㄐㄧㄢ ㄘㄜ

扩展释义

常用的探伤方法有:X光射线探伤、超声波探伤、磁粉探伤、渗透探伤(着色探伤)、涡流探伤、γ射线探伤、萤光探伤等方法。

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