基本属性
- 拼音字母li zi xian wei jing
- 拼音首字母lzxwj
- 注音符号ㄌㄧ ㄗ ㄒㄧㄢ ㄨㄟ ㄐㄧㄥ
扩展释义
E.W.弥勒于1951年发明的一种分辨率极高(2~3┱)、能直接用于观察金属表面原子的分析装置,简称FIM。FIM(Field Ion Microscope)是最早达到原子分辨率,也就是最早能看得到原子尺度的显微镜。
E.W.弥勒于1951年发明的一种分辨率极高(2~3┱)、能直接用于观察金属表面原子的分析装置,简称FIM。FIM(Field Ion Microscope)是最早达到原子分辨率,也就是最早能看得到原子尺度的显微镜。